发布时间：2022年08月17日 作者：德国GMC-I高美测仪（上海电励士）

I-V曲线测试仪下的IV曲线评估

1、阶梯或凹陷

2、低电流

3、低电压

4、圆膝

5、竖直腿浅坡

6、水平腿陡坡

I-V曲线测试仪下的IV曲线评估-阶梯或凹陷

I-V 曲线中的阶梯或凹陷表示被测试的阵列或组件的不同区域之间的不匹配情况，可能会有如下情况引起：

☆阵列或组件局部遮挡。

☆阵列或组件局部污渍或以其他方式遮蔽（比如雪等）

☆PV电池片/组件损坏。

☆旁路二极管短路。

注意：即使组件中只有一个单元被部分遮蔽也可能会导致相关的旁路二极管导通，并在曲线中产生一个凹陷。

IV曲线测试仪下的IV曲线评估-低电流：

许多因素可以导致总结如下

阵列原因：

☆均匀污染

☆条纹遮挡（纵向组件）

☆污垢坝（纵向组件）

☆光伏组件劣化

组件原因：

☆PV组件数据输入错误

☆错误地输入多个并联串

测量原因：

☆辐照传感器校准或测量问题。

☆辐射传感器未安装在阵列的平面中。

☆I-V曲线测量时辐照度改变。

☆反射效应导致辐照传感器记录偏高的辐照度。

☆辐照太低或太阳太接近地平线。

IV曲线测试仪下的IV曲线评估-低电压

电压变化的潜在原因包括以下

阵列原因：

☆旁路二极管导通或短路。

☆光伏串的组件数量错误。

☆电势诱导衰减（PID）。

☆对整个电池片/组件/组串有明显的

☆均匀的遮挡。

组件原因：

☆错误地输入PV组件数据。

☆错误输入串中的组件数目。

测量原因：

☆PV电池温度与测量值不同。

IV曲线测试仪下的IV曲线评估-圆膝

☆I-V 曲线的膝盖的倒圆可能是老化过程的表现。在得出结论之前，检查I-V曲线的水平和垂直腿的斜率。如果它们已经改变，则会在膝盖的形状中产生视觉上类似的效果。

IV曲线测试仪下的IV曲线评估-竖直腿中的浅坡

Z大功率点（Vmpp）和V oc之间的I-V曲线的后一部分的斜率受到对被测电路的串联电阻的影响。增加的电阻将减小曲线的该部分中的斜率的陡度。

串联电阻增加的潜在原因包括：

☆光伏配线损坏或故障（或电缆尺寸不足）。

☆组件或阵列互连处故障（连接不良）。

☆组件自身串联电阻增加（电池片连接导致高阻或接线盒老化腐蚀）

IV曲线测试仪下的IV曲线评估-水平腿的陡坡

I-V曲线上部的斜率变化可能是由于：

☆PV电池中的旁路电流分流。

☆组件I sc不匹配。

☆锥形阴影或污垢（例如污垢坝）